MVS-729F,采用高效自主算法,由高性能工業控制器、高清工業相機陣列構成,有效的提高了生產效率與保障了產品的一致性,其具有如下特征
◆ 基于先進的軟件開發環境、高效自主圖形算法,安全、可靠
◆ 高性能工業控制器與工業相機陣列,檢測效率高、精度高
◆ 方便的維護艙門、推拉裝置和安全鎖
◆ 定制尺寸,適于生產現場與運輸
◆ 檢測液晶模組的點、線、面缺陷與外觀損傷
◆ 單項缺陷檢測算法達到毫秒級
◆ 檢測大尺寸液晶模組
◆ 可檢測Mura、漏光等業內高難度缺陷
| 液晶模組檢測技術規格表 |
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| 類別 |
項次 |
機器視覺設備選型 |
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| 基本型 |
增強型 |
豪華型 |
定制項 |
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| 檢測指標 |
檢測精度 |
像素級 |
子像素級 |
1/2子像素 |
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| 整體檢測時間,備注 |
6s |
4s |
3s |
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| 點缺陷 |
單亮點 |
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| 連亮點 |
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| 碎亮點 |
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| 單暗點 |
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| 連暗點 |
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| 聚焦暗點 |
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| 線缺陷 |
黑線 |
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| 白條 |
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| 線狀異物 |
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| 面缺陷 |
黑團 |
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| 白團 |
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| 氣泡 |
V |
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| 凹痕 |
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| 異物 |
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| Mura |
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| 漏光 |
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| 外觀缺陷 |
破裂 |
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| 劃痕 |
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| Logo |
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| 功能缺陷 |
閃動 |
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| 網紋 |
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| 亮線 |
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| 暗線 |
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| 功能不良 |
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| 注:如上“√”表示支持 |
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